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    XRF元素分析儀

    簡要描述:

    XRF元素分析儀Thick800A通過分析熒光的強度來計算出金屬電鍍層厚度的測試設備。電鍍層測厚儀通過計算機自動操作,自動檢測算出電鍍層厚度,操作方便。 提供質量穩定性價比高的電鍍層測厚儀Thick800A,鍍層測厚儀用于分析電鍍鋅層厚度,電鍍銀層厚度,電鍍鉻層厚度,電鍍鋅層厚度,電鍍鎳層厚度,金屬電鍍測厚儀比較好的品牌是天瑞儀器,三大主流品牌之一。

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    XRF元素分析儀Thick800A產品介紹:

    是專門針對鍍層厚度測量而精心設計的一款新型儀器。主要應用于:金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定; 、鉑、銀等貴金屬和各種飾的含量檢測。

    XRF元素分析儀Thick800A性能優勢:

    精密的三維移動平臺
    的樣品觀測系統
    的圖像識別 
    輕松實現深槽樣品的檢測
    四種微孔聚焦準直器,自動切換
    雙重保護措施,實現無縫防撞
    采用大面積高分辨率探測器,有效降低檢出限,提高測試精度
    全自動智能控制方式,一鍵式操作!
    開機自動退出自檢、復位 
    開蓋自動退出樣品臺,升起Z軸測試平臺,方便放樣 
    關蓋推進樣品臺,下降Z軸測試平臺并自動完成對焦 
    直接點擊全景或局部景圖像選取測試點 
    點擊軟件界面測試按鈕,自動完成測試并顯示測試結果

    XRF元素分析儀Thick800A技術指標:

    分析元素范圍:從硫(S)到鈾(U) 
    同時檢測元素:多24個元素,多達五層鍍層
    檢出限:可達2ppm,薄可測試0.005μm
    分析含量:一般為2ppm到99.9% 
    鍍層厚度:一般在50μm以內(每種材料有所不同)重復性:可達0.1%
    穩定性:可達0.1%
    SDD探測器:分辨率低135eV
    采用的微孔準直技術,小孔徑達0.1mm,小光斑達0.1mm
    樣品觀察:配備全景和局部兩個工業高清攝像頭
    準直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與 
    Ф0.3mm四種準直器組合
    儀器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm
    樣品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm
    樣品臺尺寸:393(W)x 258 (D)mm
    X/Y/Z平臺移動速度:額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
    X/Y/Z平臺重復定位精度 :小于0.1um
    操作環境濕度:≤90%
    操作環境溫度 15℃~30℃

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